从块体样品中提取的特定位错的全应变张量纳米尺度成像
材料科学
2020-01-22 v5
摘要
晶格缺陷在决定晶体材料性能方面起着关键作用。探测控制其相互作用的三维晶格应变仍然是一项挑战。布拉格相干衍射成像（BCDI）能够以纳米级三维分辨率测量应变。然而，它目前仅限于形成微晶的材料。在此我们引入一种新技术，允许从块体材料制造 BCDI 样品。以钨为例，我们展示了聚焦离子束（FIB）加工可用于从宏观晶体中提取含有特定预先选定缺陷的微米级 BCDI 样品。为了解释实验数据，我们开发了一种基于位移梯度的多反射 BCDI 新分析方法。这使得能够从含有多个位错的样品中准确恢复完整的晶格应变张量。这些新能力为 BCDI 作为研究复杂真实世界材料的显微镜工具打开了大门。
引用
@article{arxiv.1903.04079,
title = {Nano-scale imaging of the full strain tensor of specific dislocations extracted from a bulk sample},
author = {Felix Hofmann and Nicholas W. Phillips and Suchandrima Das and Phani Karamched and Gareth M. Hughes and James O. Douglas and Wonsuk Cha and Wenjun Liu},
journal= {arXiv preprint arXiv:1903.04079},
year = {2020}
}
备注
26 pages, 6 figures