表面重构的<100>和<110>硅纳米线中的尺寸效应
介观与纳米尺度物理
2009-11-11 v1
摘要
通过密度泛函计算,研究了无表面钝化的<100>和<110>硅纳米线的几何和电子结构性质。正如我们在最近的一篇出版物[R. Rurali and N. Lorente, Phys. Rev. Lett. 94, 026805 (2005)]中所展示的,晶面的重构可以产生表面金属态。在这项工作中,我们分析了几何和电子结构特征对纳米线尺寸和生长方向的依赖性。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0607234,
title = {Size effects in surface reconstructed $<100>$ and $< 110>$ silicon nanowires},
author = {R. Rurali and A. Poissier and N. Lorente},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0607234},
year = {2009}
}