利用电双层门控实现 Mott 绝缘体 Ca$_{2}$RuO$_{4}$ 的金属化
强关联电子
2025-01-08 v1 材料科学
摘要
为验证 Mott 绝缘体 Ca2RuO4 是否可在仅施加电场(无论是否有电流流过)的条件下被切换,我们采用电双层门控(electric double-layer gating, EDLG)实现其金属化。仅当施加高于 +3 V 的正栅极电压时,EDLG 才会引起电阻变化。电阻降幅达到初始值的约 97%,难以将其解释为表面金属化,而很可能与体相的结构变化有关。
引用
@article{arxiv.2501.03591,
title = {Metallisation of the Mott Insulator Ca$_{2}$RuO$_{4}$ using Electric Double-Layer Gating},
author = {Tatsuhiro Sakami and Hiroki Ogura and Akihiro Ino and Takumi Ouchi and Tsutomu Nojima and Fumihiko Nakamura},
journal= {arXiv preprint arXiv:2501.03591},
year = {2025}
}
备注
7 pages, to be published in JPSJ