电流诱导 Mott 绝缘体 Ca$_2$RuO$_4$ 中的能隙抑制

R. Okazaki; Y. Nishina; Y. Yasui; F. Nakamura; T. Suzuki; I. Terasaki

doi:10.7566/JPSJ.82.103702

电流诱导 Mott 绝缘体 Ca$_2$RuO$_4$ 中的能隙抑制

强关联电子 2013-09-05 v1 材料科学

作者: R. Okazaki , Y. Nishina , Y. Yasui , F. Nakamura , T. Suzuki , I. Terasaki

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摘要

我们展示了在适当评估自热效应的情况下，Mott 绝缘体 Ca $_2$ RuO $_4$ 中的非线性导电现象。通过利用非接触式红外温度计，即使在存在大量焦耳热的情况下，也能准确测定样品温度。我们发现，在等温环境下，电阻率随电流连续减小。这种非线性及由此产生的负微分电阻出现在相对较低的电流范围内，与热电子或碰撞电离等传统机制不相容。我们提出了一种可能的电流诱导能隙抑制情景，这也曾在非平衡超导态或电荷有序绝缘体中进行过讨论。

关键词

Mott 绝缘体 Ca2RuO4 非线性导电电流诱导能隙抑制负微分电阻自热效应焦耳热

引用

@article{arxiv.1309.0909,
  title  = {Current-Induced Gap Suppression in the Mott Insulator Ca$_2$RuO$_4$},
  author = {R. Okazaki and Y. Nishina and Y. Yasui and F. Nakamura and T. Suzuki and I. Terasaki},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1309.0909},
  year   = {2013}
}

备注

5 pages, 3 figures, to be published in J. Phys. Soc. Jpn

电流诱导 Mott 绝缘体 Ca$_2$RuO$_4$ 中的能隙抑制

摘要

关键词

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