Mott 绝缘体的介电击穿——双占子产生与双占子加热
强关联电子
2013-07-01 v1
摘要
利用动力学平均场理论并将非交叉近似作为杂质求解器，我们研究了 Mott 绝缘体对强直流电场的响应。Mott 绝缘态的击穿是由场诱导的双占子 - 空穴对产生触发的。在先前的研究（参考文献 [1]）中发现，系统会趋向于一个长寿命的准稳态，其中电流与时间无关，尽管载流子数量不断增加。在此，我们研究并阐明了该状态的性质，这种状态仅存在于强耦合 Hubbard 模型中热化缓慢的情况下。电流与时间无关是因为双占子和空穴具有无限温度分布。这一事实的证据来自谱函数，并通过将电流与场诱导的双占子 - 空穴产生率进行比较而获得。文中还讨论了对具有能量耗散的真实实验系统的启示。
引用
@article{arxiv.1211.2698,
title = {Dielectric breakdown of Mott insulators -- doublon production and doublon heating},
author = {Martin Eckstein and Philipp Werner},
journal= {arXiv preprint arXiv:1211.2698},
year = {2013}
}