利用泄漏电流测量ATLAS内探测器中的传感器辐射损伤
高能物理 - 实验
2021-08-19 v2
摘要
非电离能量损失对ATLAS像素和条带探测器的硅传感器造成体损伤。这种损伤对数据采集运行、带电粒子径迹重建、探测器模拟和物理分析具有重要影响。本文利用大型强子对撞机Run 1（2010-2012）和Run 2（2015-2018）收集的数据，给出了ATLAS像素探测器和半导体跟踪器中泄漏电流随探测器位置和时间的模拟与测量。提取的注量在最内层显示出比模拟中更强的|z|依赖性。此外，第二最内层的整体注量显著高于模拟值，而在更大半径的层中一致性更好。这些测量对验证模拟模型十分重要，并可部分用于论证未来探测器设计与干预的安全系数。
引用
@article{arxiv.2106.09287,
title = {Measurements of sensor radiation damage in the ATLAS inner detector using leakage currents},
author = {ATLAS Collaboration},
journal= {arXiv preprint arXiv:2106.09287},
year = {2021}
}
备注
47 pages total, author list starting page 31, 12 figures, 2 tables, published in JINST. All figures including auxiliary figures are available at http://atlas.web.cern.ch/Atlas/GROUPS/PHYSICS/PAPERS/IDET-2020-01