硅棉针孔条 defect 及其对 ATLAS 内_tracker 高压电流测量的影响
仪器与探测器
2025-11-11 v2 高能物理 - 实验
摘要
为应对高光量子对碒子 (HL-LHC)，ATLAS 检测器将进行 major 升级，包括更换当前的内测量器为全硅内测量器 (ITk)。ITk 由靠近束流的像素检测器环绕着大面积条形检测器构成。在制造过程中，对硅棉传感器和读出电子学的电性属性必须通过一系列质量控制 (QC) 和质量保证测试进行表征，以确保在最早的阶段捕获任何 defect。其中一种称为针孔的 defect，当条形植入与金属读出电极通过介电层之间发生短路时便发生。值得注意的是，在模块装配过程中引入针孔以及针孔对已完成模块尤其是漏电流测量电路的影响，此前从未有所研究。在本文中，我们研究了此类连接对已完成模块传感器漏电流测量的影响，并引入新方法以定位针孔条形。通过对测试程序的 minor 修改，这些 defect 被证明不会阻碍模块测试或性能。
引用
@article{arxiv.2509.26441,
title = {Silicon pinhole strip defects and their impact on ATLAS Inner Tracker HV current measurement},
author = {Anthony Affolder and Kirsten Affolder and Emily Duden and Vitaliy Fadeyev and Cole Helling and David Lynn and Forest Martinez-Mckinney and Peter Phillips and Luise Poley and Tate Sakaguchi and Abdullah Sayed and Stefania Stucci and Alex Wang and Marcus Wong},
journal= {arXiv preprint arXiv:2509.26441},
year = {2025}
}