基于偏振 X 射线吸收谱的 B/Si(111) 中 B 原子局域几何结构
材料科学
2019-02-19 v1
摘要
利用近边 X 射线吸收精细结构(NEXAFS)研究了掺杂 Si(111)-:B 体系中 B 原子的排布。通过反复闪蒸样品使其从体相偏析而沉积硼原子。通过比较测量的偏振(角度依赖)NEXAFS 谱与基于第一性原理总能量计算的各种结构模型谱,确定了 B 原子的位置。发现大多数硼原子位于表面下 L 位置,即一个 Si 原子下方。然而,根据制备方法的不同,相当一部分 B 原子可能位于其他位置。这些非 L 原子的可能位置是在表面,邻近那些形成 重构的 Si 原子。
引用
@article{arxiv.1902.06244,
title = {Local geometry around B atoms in B/Si(111) from polarized x-ray absorption spectroscopy},
author = {Saleem Ayaz Khan and Martin Vondráček and Peter Blaha and Kateřina Horáková and Jan Minár and Ondřej Šipr and Vladimír Cháb},
journal= {arXiv preprint arXiv:1902.06244},
year = {2019}
}
备注
9 pages, 8 figures