利用直接微探针技术对二维材料进行无光刻电输运测量
仪器与探测器
2017-05-24 v1 介观与纳米尺度物理
材料科学
摘要
我们提出了一种使用碳纤维微探针对二维材料进行电学和光电子学测量的方法，可直接与二维材料形成电接触而不损伤它们。通过测量 MoS2 薄片在垂直（面外方向输运）和横向（晶面内输运）构型中的输运，阐明了该微探针方法的工作原理，发现其性能与常规光刻工艺制造的 MoS2 器件所报道的性能相当。我们还表明该方法可用于其他二维材料。
引用
@article{arxiv.1705.07889,
title = {Lithography-free electrical transport measurements on 2D materials by direct microprobing},
author = {Patricia Gant and Yue Niu and Simon A. Svatek and Nicolás Agraït and Carmen Munuera and Mar García- Hernández and Riccardo Frisenda and David Perez de Lara and Andres Castellanos-Gomez},
journal= {arXiv preprint arXiv:1705.07889},
year = {2017}
}
备注
7 main text figures + 11 Supp. Info. figures. Total 25 pages