高度纠缠张量

单位长度张量 $T \in (\mathbb{C}^n)^{\otimes k}$ 纠缠的几何测度由 $- 2 \log_2 ||T||_\sigma$ 给出，其中 $||.||_\sigma$ 表示谱范数。通过简单的归纳法，可以得到纠缠的一个上界为 $(k-1) \log_2(n)$。我们证明了存在纠缠大于 $k \log_2(n) - \log_2(k) - o(\log_2(k))$ 的张量。Friedland 和 Kemp 在对称张量的情况下得到了类似的结果。我们的技术在此情形下给出了改进。