利用相干态探针通过双模量子探测器层析表征量子测量的纠缠性质

纠缠测量是量子技术中的关键工具。我们提出了一种多模探测的新纠缠度量，用于估计在测量中可产生的纠缠量。为了说明所提出的度量，我们对由两个超导纳米线单光子探测器组成的双模探测器进行了量子层析。我们的方法利用相干态作为探针态，相干态可以高精度地轻松制备。我们的工作表明，诸如相干态之类的可分态足以表征潜在的纠缠探测器。我们研究了探测器在各种设置下的纠缠能力。我们提出的度量验证了探测器在特定条件下进行纠缠测量，并揭示了探测器纠缠性质的本质。由于探测器的精确表征对于量子信息技术应用至关重要，探测器性质的实验重建连同所提出的度量将成为未来量子信息处理的关键特征。