填充间隙：通过 SEMGlu 定向固化实现孔隙结构的原子探针测量
仪器与探测器
2025-10-28 v1 材料科学
摘要
孔隙微结构虽是许多功能材料的核心，但仍难以通过原子探针测量 (APT) 对其进行定量表征。尽管过去十年提出了多种策略，但大多数仍受到显著实际或技术限制。本文我们引入一种原位孔隙填充方法，该方法可无缝集成到常规标样准备工作流程中。该方法采用兼容真空的树脂，并通过标准离子束准备中的电子束快速固化，从而无需额外仪器或 extensive sample handling。我们以 porous SnSe + MXene 电极为例，展示了该方法的有效性，该材料体系 otherwise difficult 通过 APT 进行表征。该方法提供了一种稳健、可接近的解决方案，用于将 APT 分析扩展到孔隙材料。
引用
@article{arxiv.2510.23417,
title = {Filling the Gap: Atom Probe Tomography of Porous Structures Enabled by Site Specific SEMGlu Curing},
author = {Lukas Worch and James O. Douglas and Kavin Arunasalam and Baptiste Gault and Valeria Nicolosi and Michele Shelly Conroy},
journal= {arXiv preprint arXiv:2510.23417},
year = {2025}
}