有机分子材料的原子探针层析:亚道尔顿纳米级定量
材料科学
2020-08-06 v2 介观与纳米尺度物理
软凝聚态物质
摘要
在本文中,我们证明原子探针层析(APT)可应用于小分子有机材料。我们表明 APT 能提供前所未有的质量分辨率 、z 方向空间分辨率 和 x-y 方向 、以及分析灵敏度 的组合,且无分子碎裂迹象。我们讨论两个展示 APT 揭示有机体系中结构-性质关系能力的体系,这些关系用现有技术极难探测:(1)一个已发表的模型有机光伏体系,其中我们显示异质界面处发生了化学反应;和(2)一个模型有机发光二极管体系,其中我们显示发光层体相中发生了分子偏析。这些例子说明了 APT 在实现对有机分子材料新见解方面的能力。
引用
@article{arxiv.1806.10650,
title = {Atom Probe Tomography of Organic Molecular Materials: Sub-Dalton Nanometer-Scale Quantification},
author = {Andrew P. Proudian and Matthew B. Jaskot and David R. Diercks and Brian P. Gorman and Jeramy D. Zimmerman},
journal= {arXiv preprint arXiv:1806.10650},
year = {2020}
}
备注
14 pages, 5 figures, plus SI