基于原子探针层析成像的小颗粒与溶质团簇计量学
材料科学
2020-02-25 v2
摘要
原子探针层析成像（APT）常规用于分析纳米尺寸及以下增强性能的颗粒，并在溶质团簇分析中发挥突出作用。然而，由于缺乏可靠的基准，这些小颗粒被测量得有多好这一问题从未被解决。在此，为填补这一关键空白，我们采用一种允许对同一材料进行APT与小角（X射线）散射（SA(X)S）直接比较的方法。我们引入用于颗粒分析的有效空间分辨率概念，重要的是在此背景下，它与技术固有的空间分辨率非常不同。该有效分辨率高度特定于所考虑的系统以及分析条件。不存在技术会失效的硬性下限，但半径为约 \textapprox （即约\num{250}个原子）的颗粒无法被准确测量，即使这些颗粒被检测到。这一对APT颗粒分析的详尽计量学评估使我们能够讨论该技术的脉冲扩展函数及其极限背后的物理。我们得出结论，在使用APT分析溶质团簇时应格外小心，特别是在报告颗粒尺寸和成分时。
引用
@article{arxiv.1910.10532,
title = {Metrology of small particles and solute clusters by atom probe tomography},
author = {Frédéric De Geuser and Baptiste Gault},
journal= {arXiv preprint arXiv:1910.10532},
year = {2020}
}