通过原位溅射促进二维 MXene 薄膜的原子探针层析分析
材料科学
2024-04-02 v1 应用物理
摘要
二维材料正作为有前景的纳米材料崭露头角，在储能和催化领域具有应用潜力。在 MXene 的湿化学合成中，这些二维过渡金属碳化物和氮化物表面终止有多种多样的官能团，并且常使用 Li+ 等阳离子嵌入结构以获得剥离的纳米片。鉴于合成过程中涉及多种元素，确定最终产物的详细化学成分至关重要，以便更好地评估和理解这些材料的成分与性能之间的关系。为促进此类材料的原子探针层析（atom probe tomography）分析，本研究提出了一种改进的样品制备方法。将胶体 Ti3C2Tz MXene 溶液加工成无添加剂的独立薄膜，并使用双束扫描电子显微镜/聚焦离子束制备样品。为机械稳定这些脆弱的样品，采用原位溅射技术对其进行包覆。由于各种二维材料墨水均可加工成此类独立薄膜，所提出的方法对于实现其他二维材料的原子探针分析具有关键意义。
引用
@article{arxiv.2311.18688,
title = {Facilitating Atom Probe Tomography of 2D MXene Films by In Situ Sputtering},
author = {Mathias Krämer and Bar Favelukis and Maxim Sokol and Brian A. Rosen and Noam Eliaz and Se-Ho Kim and Baptiste Gault},
journal= {arXiv preprint arXiv:2311.18688},
year = {2024}
}