通过扫描光电流显微镜绘制纳米管晶体管的电子能带结构图
材料科学
2007-05-24 v1
摘要
报道了在不同输运机制下工作的碳纳米管场效应晶体管（CNFETs）的空间分辨光电流测量结果。研究表明，在不同偏置条件下测量的光电流提供了获取纳米管通道电子能带结构轮廓的途径。将器件切换至 n 型或 p 型态后的轮廓对比，清楚地证明了环境化学掺杂的影响。此外，我们表明扫描光电流显微镜构成了一种有效且简便的技术，可用于定量测定此类器件中的肖特基势垒高度。
引用
@article{arxiv.0705.3407,
title = {Electronic Band Structure Mapping of Nanotube Transistors by Scanning Photocurrent Microscopy},
author = {E. J. H. Lee and K. Balasubramanian and J. Dorfmueller and R. Vogelgesang and N. Fu and A. Mews and M. Burghard and K. Kern},
journal= {arXiv preprint arXiv:0705.3407},
year = {2007}
}
备注
4 pages, 4 figures