从双调和远场数据恢复夹紧空腔的直接采样方法
偏微分方程分析
2025-01-22 v2
摘要
本文关注于恢复嵌入薄无限板中的未知夹紧空腔的逆形状问题。假设模型问题由频域中的二维双调和波动方程控制。基于远场数据，通过直接采样方法对空腔恢复进行了分辨率分析。利用Funk-Hecke积分恒等式分析了两个成像函数的性能。我们的分析表明，常用于声学逆形状问题的相同成像函数也适用于双调和波背景。这项工作首次将直接采样方法扩展到使用远场数据的双调和波。提供了数值例子来说明这些成像函数在恢复夹紧空腔方面的有效性。
引用
@article{arxiv.2409.04870,
title = {Direct sampling for recovering a clamped cavity from biharmonic far field data},
author = {Isaac Harris and Heejin Lee and Peijun Li},
journal= {arXiv preprint arXiv:2409.04870},
year = {2025}
}