涨落界面粗糙度参数统计特征的数值研究
无序系统与神经网络
2021-07-21 v1
摘要
自仿射粗糙界面在实验系统中无处不在，并表现出特征标度特性，作为其支撑介质中无序性质即其非均匀性统计特征的标志。已使用不同方法从此类自仿射结构中提取粗糙度信息，特别是其标度指数和相关的 prefactor。值得注意的是，对于粗糙特征的实验表征，恰当评估粗糙度参数的样本间涨落至关重要。在此，通过基于实空间和倒空间中位移关联函数的标度分析，我们计算了粗糙度参数的统计性质。作为一个理想的、无伪影的参考案例研究，并特别针对有限尺寸系统，我们考虑了三种数值模拟的一维界面情形：(i)无无序的热涨落下的弹性线，(ii)与无序能量景观平衡的定向聚合物，以及(iii)当外部施加驱动力等于由无序设定的去钉扎力时处于临界去钉扎状态的弹性线。我们的结果表明，在测量粗糙度指数时样本间涨落相当大。这些涨落对于粗糙度幅值也很重要。因此，应使用最少数量的独立界面实现（在我们的数值模拟中至少数十个）以保证充分的统计平均，这一问题在实验报告中常被忽视。
引用
@article{arxiv.2107.09517,
title = {A numerical study of the statistics of roughness parameters for fluctuating interfaces},
author = {Sebastian Bustingorry and Jill Guyonnet and Patrycja Paruch and Elisabeth Agoritsas},
journal= {arXiv preprint arXiv:2107.09517},
year = {2021}
}
备注
Significant overlap with arXiv:1904.11726