涨落界面粗糙度统计：不同标度分析综述
无序系统与神经网络
2021-07-22 v3 统计力学
摘要
铁性畴壁已知表现出自仿射粗糙界面的特征标度性质。在铁电与铁磁材料中，已使用不同方法来提取粗糙度信息。在此，我们综述这些不同方法，将基于实空间（局部与全局）位移自相关函数的粗糙度标度分析同倒空间方法进行比较。这使我们得以解决诸如充分统计平均之必要性等重要实际问题。作为一个无伪影的理想参考案例，并特别针对有限尺寸系统，我们考虑了两种数值模拟界面：一种处于无序能量景观的平衡态，另一种对应于外驱力等于去钉扎力时的临界去钉扎态。我们发现，在统计充分时，基于结构因子的倒空间方法可最稳健地提取粗糙度指数；而基于粗糙度函数的实空间分析能最有效地利用仅含数量有限、长度可变的界面的数据集。因此，该信息对于正确量化铁性材料中的粗糙度指数十分重要。
引用
@article{arxiv.1904.11726,
title = {Statistics of roughness for fluctuating interfaces: A survey of different scaling analyses},
author = {J. Guyonnet and E. Agoritsas and P. Paruch and S. Bustingorry},
journal= {arXiv preprint arXiv:1904.11726},
year = {2021}
}
备注
11 pages, 10 figures, significant overlap with arXiv:2107.09517