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用于 X 射线计算机断层扫描探测器的 CdZnTe:Cl 晶体

材料科学 2007-05-23 v1

作者: O. A. Matveev , A. I. Terent'ev , V. P. Karpenko , N. K. Zelenina , A. Fauler , M. Federle , K. W. Benz

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摘要

本文研究了 n 型导电半绝缘 Cd(1-x)Zn(x)Te:Cl 晶体 (x = 0.0002 和 0.1) 的生长过程。由生长的晶体获得了具有小光电流记忆（余辉）值 (0.1-0.3%) 的 X 射线计算机断层扫描探测器。

关键词

引用

@article{arxiv.0704.2330,
  title  = {CdZnTe:Cl crystals for X-ray computer tomography detectors},
  author = {O. A. Matveev and A. I. Terent'ev and V. P. Karpenko and N. K. Zelenina and A. Fauler and M. Federle and K. W. Benz},
  journal= {arXiv preprint arXiv:0704.2330},
  year   = {2007}
}

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3 pages, 2 figures

R2 v1 2026-06-29T00:00:15.838Z