弱耦合与强耦合下全息缺陷共形场论的 Weyl 异常系数

我们确定了与缺陷内禀标量曲率相关的 A 型 Weyl 异常系数 $b$，针对的是 arXiv: 2506.14505 和 arXiv: 2512.14853 中引入的全息实现的余维数为二的缺陷共形场论 类。在强耦合下，我们采用欧几里得符号中的对偶 D5 膜解，其中缺陷支撑在欧几里得 $AdS_3\times S^1$ 边界的 $S^2$ 子流形上。在弱耦合下，我们使用 $\mathcal{N}=4$ SYM 运动方程的经典解，先前推测其描述了与 D5 膜构型对偶的缺陷。值得注意的是，我们发现系数 $b$ 在参数空间的有限区域内为负。据我们所知，这构成了 $b<0$ 的相互作用幺正 dCFT 的首个显式例子。我们还计算了与缺陷外禀曲率相关的 B 型 Weyl 异常系数，首先在强耦合下，随后在弱耦合下。在某个极限下，我们发现 A 型和 B 型异常系数的弱耦合与强耦合结果之间是一致的。