超导纳米电路中热和量子相滑移计数统计的普适特征

我们对不同类型超导弱连接上的相滑移诱导开关电流事件进行了测量，并系统研究了开关电流分布的统计特性。我们采用了两种器件，其中弱连接由超导纳米线或受邻近效应影响的石墨烯薄片形成。我们证明，无论弱连接的性质如何，分布的高阶矩都取普适值。特别地，分布的第三阶矩（偏度）在热区和量子区都接近-1。第四阶矩（峰度）也取接近5的普适值。偏度和峰度的普适性得到了解析模型的证实。我们的数值分析表明，将外部噪声引入系统会导致与普适值的显著偏差。我们建议将发现的高阶矩普适性作为一种稳健的工具，用于检查各种类型测量中噪声的不良影响。