扫描偏置约瑟夫森结中逃逸事件分布的经典统计模型
统计力学
2012-03-06 v1
摘要
我们建立了一个模型，用于描述实验中偏置电流从零缓慢增加直至约瑟夫森结从其超导零电压状态切换，并记录此时偏置值的实验。重复此类测量可得到逃逸时刻偏置电流的实验概率分布。我们的模型为这些逃逸峰的温度依赖性提供了现有数据的解释。当施加微波时，我们在逃逸分布中观察到额外的峰，并证明该峰与实验观测一致。结果表明，实验观测到的有无微波的开关分布可以在经典力学框架内理解，且可能不呈现需要纯量子力学解释的现象。
引用
@article{arxiv.1203.0377,
title = {A classical statistical model for distributions of escape events in swept-bias Josephson junctions},
author = {James A. Blackburn and Matteo Cirillo and Niels Grønbech-Jensen},
journal= {arXiv preprint arXiv:1203.0377},
year = {2012}
}
备注
Eight pages, eight figures