面向互连电迁移估计的不均匀电流分布建模与基于随机游走的变异分析
应用物理
2017-12-27 v1
摘要
本文对片上互连结构的不均匀电流分布进行了建模与仿真。我们展示了考虑不均匀电流分布时的显著差异。采用有限元方法分析各种变异效应。利用 Blech 长度效应与解析电迁移寿命计算快速识别片上电迁移薄弱导线。我们提出一种基于随机游走的方法来评估片上变异对电迁移可靠性的影响。实验结果表明，在存在变异效应时电迁移退化显著。
引用
@article{arxiv.1712.08722,
title = {Uneven Current Distribution Modeling and Random Walk based Variation Analysis for interconnect Electromigration Estimation},
author = {Karthik Airani and Rohit Guttal},
journal= {arXiv preprint arXiv:1712.08722},
year = {2017}
}
备注
15 pages, 11 figures, 2 tables