有机空间电荷层中的陷阱-解陷阱涨落
材料科学
2010-08-17 v1
摘要
我们提出了一种陷阱-解陷阱模型，用于解释在电流注入条件下工作的有机半导体（多并苯）中的电流涨落行为。从电流-电压特性中获得的电离陷阱比例，与陷阱填充转变处的相对电流噪声谱密度相关。理论与实验之间的一致性验证了该模型，并提供了对深陷阱浓度和能级的估计。
引用
@article{arxiv.1008.2445,
title = {Trapping-detrapping fluctuations in organic space-charge layers},
author = {Anna Carbone and Cecilia Pennetta and Lino Reggiani},
journal= {arXiv preprint arXiv:1008.2445},
year = {2010}
}