Floquet 电路中的拓扑缺陷
强关联电子
2024-03-20 v3 统计力学
高能物理 - 理论
量子物理
摘要
我们引入了一个描述带拓扑缺陷的驱动 Ising 链的 Floquet 电路。相应的门包含一个翻转自旋的缺陷,以及显式实现 Kramers-Wannier 对偶变换的对偶缺陷。Floquet 酉演化算子与此类缺陷对易,但对偶缺陷不是酉的,因为它投影掉一半态。我们给出这些缺陷的两个应用。其一是分析存在环绕系统的“类空间”缺陷时的返回振幅。我们明确验证返回振幅与缺陷的融合规则一致。第二个应用是研究在施加反周期与对偶扭曲边界条件的“类时间”缺陷存在下的酉演化。我们展示在后一种情形中出现单个未配对的局域化 Majorana 零模。我们显式构造了该算符,它作为此 Floquet 电路的一个对称性起作用。我们还给出了在上述所有缺陷构型下,少数格点系统单时间步后的纠缠熵的解析表达式。
引用
@article{arxiv.2206.06272,
title = {Topological Defects in Floquet Circuits},
author = {Mao Tian Tan and Yifan Wang and Aditi Mitra},
journal= {arXiv preprint arXiv:2206.06272},
year = {2024}
}
备注
54 pages, LaTeX; typos corrected