原子力显微镜观察Stranski-Krastanow模式生长的InAs量子点中的针尖伪影
材料科学
2007-05-23 v1
摘要
定量评估了原子力显微镜(AFM)观察InAs岛中的针尖伪影。这些岛通过分子束外延的Stranski-Krastanow模式生长。使用透射电子显微镜(TEM)和AFM确定了岛的宽度和高度。使用TEM(排除天然氧化物)确定的平均面内宽度和高度分别为22 nm和7 nm；使用AFM(包括氧化物)确定的分别为35 nm和8 nm。宽度的差异归因于氧化物和针尖伪影。根据TEM观察推断，包括氧化物在内的尺寸为宽度27 nm和高度6 nm，并对氧化物厚度进行了校正。AFM确定的宽度与包括氧化物在内的TEM确定的宽度之间8 nm的残余差异归因于针尖伪影。这些结果使我们能够从AFM图像确定岛的实际尺寸。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0702354,
title = {Tip artifact in atomic force microscopy observations of InAs quantum dots grown in Stranski-Krastanow mode},
author = {Ken-ichi Shiramine and Shunichi Muto and Tamaki Shibayama and Norihito Sakaguchi and Hideki Ichinose and Tamotsu Kozaki and Seichi Sato and Yoshiaki Nakata and Naoki Yokoyama and Masafumi Taniwaki},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0702354},
year = {2007}
}
备注
5 pages, 4 figures, 1 table, (C) 2007 American Institute of Physics