功能化针尖实现高分辨率 STM/AFM 成像的机制
介观与纳米尺度物理
2014-08-27 v1
摘要
利用功能化针尖进行高分辨率原子力显微镜 (AFM) 和扫描隧道显微镜 (STM) 成像的技术已相当成熟，但对其成像机制的详细理解仍然缺失。我们提出了一种数值 STM/AFM 模型，该模型考虑了由针尖 - 样品相互作用引起的探针弛豫。我们证明，该模型不仅能很好地重现实验观测到的分子内和分子间衬度，还能重现它们随针尖逼近时的演化。在近距离下，模拟揭示了探针粒子向相互作用势局部极小值发生的显著弛豫。这一效应是 AFM/STM 实验中观察到的锐利亚分子分辨率的原因。此外，我们证明，锐利的表观分子间键不应被解释为真正的氢键（即代表电子密度增加的区域）；相反，它们代表了由相邻原子引起的势能面两个极小值之间的脊。
引用
@article{arxiv.1406.3562,
title = {The mechanism of high-resolution STM/AFM imaging with functionalized tips},
author = {Prokop Hapala and Georgy Kichin and Christian Wagner and F. Stefan Tautz and Ruslan Temirov and Pavel Jelinek},
journal= {arXiv preprint arXiv:1406.3562},
year = {2014}
}