通过 IETS 振幅变化实现亚分子分辨率及其与 AFM/STM 信号的关系
材料科学
2017-10-18 v1
摘要
我们在 5K 下使用 CO 终止针尖对有机分子进行了扫描隧道显微镜（STM）、非接触式原子力显微镜（AFM）以及非弹性电子隧道光谱（IETS）测量。在所有通道中同时观察到的高分辨率对比度，明确证明了 STM/AFM/IETS 中存在共同的成像机制，该机制与 CO 功能化针尖的横向弯曲有关。IETS 光谱表明，5K 下的亚分子对比度由振动频率的重整化与 IETS 信号振幅的变化共同构成。这一发现也得到了第一性原理模拟的证实。我们相应地扩展了探针粒子 AFM/STM/IETS 模型，以包含重现高分辨率 IETS 对比度所需的这两个主要要素。我们还利用第一性原理模拟，进一步深入探究了成像过程中 CO 针尖受挫平动模与受挫转动模的不同响应。
引用
@article{arxiv.1710.06180,
title = {Submolecular resolution by variation of IETS amplitude and its relation to AFM/STM signal},
author = {Bruno de la Torre and Martin Švec and Giuseppe Foti and Ondřej Krejčí and Prokop Hapala and Aran Garcia-Lekue and Thomas Frederiksen and Radek Zbořil and Andrés Arnau and Héctor Vázquez and Pavel Jelínek},
journal= {arXiv preprint arXiv:1710.06180},
year = {2017}
}