评‘场离子显微镜表征针尖在非接触原子力显微镜中的应用：长程力相互作用的量化’
介观与纳米尺度物理
2013-08-02 v2 材料科学
摘要
Falter 等人近期发表的文章 (Phys. Rev. B 87, 115412 (2013)) 展示了利用场离子显微镜表征的针尖在非接触原子力显微镜中表征静电和范德华长程力的实验结果。在该文章中，由于环计数法应用中的细微问题，针尖半径被严重低估为约 4.7 nm，而非约 8.1 nm。我们指出了环计数中常见错误的来源，以利于未来在通过 FIM 确定针尖半径至关重要的实验工作。
引用
@article{arxiv.1304.6766,
title = {Comment on 'Field ion microscopy characterized tips in noncontact atomic force microscopy: Quantification of long-range force interactions'},
author = {William Paul and Peter Grütter},
journal= {arXiv preprint arXiv:1304.6766},
year = {2013}
}
备注
3 pages, 3 figures