扫描门实验中针尖诱导电势的测量
介观与纳米尺度物理
2009-11-13 v2
摘要
我们详细实验研究了量子点与扫描力显微镜金属针尖之间的静电相互作用。我们的方法能够定量绘制针尖诱导电势图,并高分辨率地确定针尖杠杆臂的空间依赖性。我们发现针尖诱导电势可分为两部分,一部分依赖于施加在针尖上的电压,另一部分与该电压无关。第一部分源于金属针尖,而我们将第二部分解释为针尖上带电介电粒子的效应。在杠杆臂的测量中,我们发现了依赖于所研究量子态的精细结构。我们结合扫描门实验对这些结果进行了讨论,在扫描门实验中,针尖被用作可移动栅极来研究纳米结构。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0702490,
title = {Measurement of the Tip-Induced Potential in Scanning Gate Experiments},
author = {A. E. Gildemeister and T. Ihn and M. Sigrist and K. Ensslin and D. C. Driscoll and A. C. Gossard},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0702490},
year = {2009}
}
备注
7 pages, 5 figures, minor changes to fit published version