耦合量子点-量子点接触系统的成像
介观与纳米尺度物理
2011-11-09 v1
摘要
我们使用低温扫描力显微镜的尖锐金属尖端作为扫描栅极,对量子点和电容耦合的量子点接触进行了测量。量子点接触用作量子点上或附近电荷的探测器。它使我们能够区分多个电荷陷阱中的单电子充电事件与量子点上的充电事件。我们定量分析了尖端诱导势,发现其形状在一定参数范围内与施加在尖端上的电压无关。我们估计陷阱密度低于掺杂密度的0.1%,并且量子点与陷阱之间的相互作用能是量子点充电能的显著部分。可能,这种电荷陷阱是经常观察到的参数性电荷重排的原因。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0702299,
title = {Imaging a Coupled Quantum Dot - Quantum Point Contact System},
author = {A. E. Gildemeister and T. Ihn and R. Schleser and K. Ensslin and D. C. Driscoll and A. C. Gossard},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0702299},
year = {2011}
}
备注
6 pages, 5 figures