通过电荷检测测量近闭合量子点中的激发态光谱
介观与纳米尺度物理
2007-05-23 v1
摘要
我们演示了一种新方法，用于测量与单个导轨极其弱连接的量子点的离散能谱。应用到金属栅极上的一系列电压脉冲可引起电子在量子点和储库之间的隧穿。有效隧穿速率取决于脉冲使能级可达的数量及其性质。通过测量电荷动力学，从而揭示了量子点的能谱，如在 few-electron regime 中的量子点所示。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0312222,
title = {Excited-state spectroscopy on a nearly-closed quantum dot via charge detection},
author = {J. M. Elzerman and R. Hanson and L. H. Willems van Beveren and L. M. K. Vandersypen and L. P. Kouwenhoven},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0312222},
year = {2007}
}
备注
4 pages, 4 figures