隔离双量子点中激发态的锁存检测
介观与纳米尺度物理
2009-11-10 v2
摘要
使用脉冲电静电栅控结合电容式电荷探测，用于对电气隔离的双量子点系统进行激发态光谱。单个电荷在两个量子点之间通过的隧穿速率受到能级对齐的影响；测量的隧穿概率从而揭示了谱特征。研究了两种脉冲序列，其中一种称为锁存检测，允许在不重复测量单个隧穿事件的情况下进行测量。两种方法均可在双量子点系统无需电接触的情况下进行激发态光谱。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0312717,
title = {Latched Detection of Excited States in an Isolated Double Quantum Dot},
author = {A. C. Johnson and C. M. Marcus and M. P. Hanson and A. C. Gossard},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0312717},
year = {2009}
}
备注
related papers available at http://marcuslab.harvard.edu