原子力显微镜成像与表征的少电子量子点能级
介观与纳米尺度物理
2010-06-07 v1 材料科学
摘要
在原子、分子和量子点等少电子系统中，电荷的强约束导致离散能级谱，这些能级通常由几个简并量子态共享。由于电子结构是理解其化学性质的关键，因此原位探测这些能级的方法非常重要。我们展示了如何使用原子力显微镜的静电力探测来揭示单个和耦合自组装量子点的电子结构。库仑阻塞区间的电子添加谱，由隧穿事件期间悬臂共振频率和耗散的变化引起，显示了一个点逐个电子的充电过程。这些谱显示了孤立量子点中清晰的能级简并性，并得到了首次观测到的库仑阻塞峰预测的温度依赖性位移的支持。此外，通过扫描表面，我们观察到几个量子点可能位于拓扑上看似只是一个的点上。这些弱耦合和强耦合点群的图像使我们能够估计它们的相对耦合强度。
引用
@article{arxiv.0910.0005,
title = {Energy levels of few electron quantum dots imaged and characterized by atomic force microscopy},
author = {Lynda Cockins and Yoichi Miyahara and Steven D. Bennett and Aashish A. Clerk and Peter Grutter and Sergei Studenikin and Philip Poole and Andrew Sachrajda},
journal= {arXiv preprint arXiv:0910.0005},
year = {2010}
}
备注
11 pages, 6 figures