近藤量子点的扫描门显微镜：法布里 - 珀罗干涉与热致环
介观与纳米尺度物理
2013-05-02 v1
摘要
我们研究了在二维电子气中由纳米结构量子接触和扫描门显微镜带电探针之间形成的电子干涉仪的电导。通过测量电导随探针位置的变化，除了间距为半个费米波长的法布里 - 珀罗干涉条纹外，还可以观察到热致环。如果该接触由在近藤谷中部开放的量子点构成，我们将展示如何利用环的位置，通过电子干涉术测量高于近藤温度时量子点的磁矩。
引用
@article{arxiv.1305.0106,
title = {Scanning Gate Microscopy of Kondo Dots: Fabry-P\'erot Interferences and Thermally Induced Rings},
author = {Andrii Kleshchonok and Geneviève Fleury and Jean-Louis Pichard},
journal= {arXiv preprint arXiv:1305.0106},
year = {2013}
}
备注
5 pages, 4 figures