含无序量子点接触的扫描门电导图中的干涉特征
介观与纳米尺度物理
2016-08-04 v1
摘要
我们考虑由扫描门显微镜所研究的、定义于无序二维电子气中的量子点接触（QPCs）。我们在朗道尔方法和电子输运的波函数图像下，评估了有限温度下低电子迁移率和高电子迁移率样品的电导图。我们在分支电子流的背景下讨论杂质的空间分布。我们重现了远离 QPC 处实验干涉条纹令人惊讶的温度稳定性。接下来，我们讨论先前未描述的、伴随先前实验中可见分支分裂的漏斗状特征。最后，我们研究了由点状杂质散射与扫描探针散射相互作用形成的椭圆干涉条纹。我们讨论了椭圆特征作为针尖电压和温度函数的细节，表明第一干涉条纹对费米能级的热展宽非常鲁棒。我们提出了一个简单的解析模型，该模型可提取杂质位置以及由原子力显微镜带负电针尖引起的电子气耗尽半径，并将该模型应用于显示此类椭圆条纹的实验扫描门图像。
引用
@article{arxiv.1603.07096,
title = {Interference features in scanning gate conductance maps of quantum point contacts with disorder},
author = {K. Kolasiński and B. Szafran and B. Brun and H. Sellier},
journal= {arXiv preprint arXiv:1603.07096},
year = {2016}
}