近表面局域态的静电力谱
材料科学
2009-11-10 v1 其他凝聚态物理
摘要
在低温下利用静电力显微镜，探测了导电原子力显微镜针尖与半导体绝缘层中局域态俘获的电子电荷之间的静电相互作用。测量悬臂的频移作为针尖-样品的函数，当针尖位于陷阱中心附近时，在某些电压下会出现离散峰。这些频移的离散变化归因于随着针尖-样品电压的增加，当量子化能量越过基底导带费米能级时，各个电子态被逐一填充。对该实验的理论分析表明，这种作为偏置电压函数的悬臂频移测量可以解释为交流力测量，由此可以推导出关于局域态位置、能量和隧穿时间的谱学信息。本文还展示了以InAs量子点作为陷阱中心的样品的研究实验结果。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0409111,
title = {Electrostatic force spectroscopy of near-surface localized states},
author = {Aykutlu Dana and Yoshihisa Yamamoto},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0409111},
year = {2009}
}
备注
26 pages, 10 figures