利用轻敲模式原子力显微镜中的分岔校准时变针尖-样品力测量
仪器与探测器
2008-11-26 v1
摘要
扭转谐波悬臂梁允许在轻敲模式原子力显微镜中测量时变针尖-样品力。这些力测量的准确性对定量纳米力学测量至关重要。在此，我们展示了一种利用轻敲悬臂梁的非线性动力学响应，将扭转偏转信号转换为校准力波形的方法。具体而言，稳态振荡机制之间的转换被用于校准扭转偏转信号。
引用
@article{arxiv.0709.0533,
title = {Harnessing bifurcations in tapping-mode atomic force microscopy to calibrate time-varying tip-sample force measurements},
author = {Ozgur Sahin},
journal= {arXiv preprint arXiv:0709.0533},
year = {2008}
}
备注
13 pages