开尔文探针力显微镜中的电荷态动力学
介观与纳米尺度物理
2016-06-22 v1
摘要
我们提出了一个数值模型，使我们能够研究开尔文探针力显微镜在不同时间尺度上对量子点中电荷开关的响应。该模型更深入地揭示了在测量表面暂时带电量子点的不同扫描条件下频率偏移和耗散能量的行为。即，我们分析了频率偏移、其涨落以及耗散能量对针尖共振频率以及针尖-量子点和量子点-样品之间电子隧穿速率的依赖性。我们讨论了两种互补的模拟电荷动力学的方法，随机和确定性的。此外，我们推导了适用于小振幅的解析公式，描述了频率偏移、耗散能量以及驱动充放电过程的特性速率之间的关系。
引用
@article{arxiv.1601.07292,
title = {Charged-state dynamics in Kelvin probe force microscopy},
author = {Martin Ondráček and Prokop Hapala and Pavel Jelínek},
journal= {arXiv preprint arXiv:1601.07292},
year = {2016}
}
备注
15 pages, 4 figures