h-BN纳米网层的真实波纹度
材料科学
2020-08-19 v1
摘要
六方氮化硼(h-BN)纳米网是一种二维绝缘单层，生长在铑的(111)表面时呈现出晶格常数为3.2 nm的引人注目的六方波纹图案。尽管已有大量实验与理论研究，但在吸附几何的一些细节（如波纹振幅）上未达成定量一致。该问题凸显了强束缚孔区与弱束缚线区在化学与电子环境上的差异。为获得可靠结果，重要的是用一种本质上对原子实位置而非态密度敏感的方法来探测结构。本工作中，我们通过具有化学态分辨的角分辨与能量分辨光电子衍射测量确定了h-BN纳米网的波纹度。结合角扫描与能量扫描结果并与多重散射模拟比较，可以高精度测量真实的吸附质-衬底距离，避免扫描探针技术中表观形貌的陷阱。我们的实验给出了峰到峰波纹振幅(0.80 A)、到衬底的成键距离(2.20 A)以及强束缚孔区中硼与氮原子的屈曲(0.07 A)的精确值。这些结果对涉及范德瓦尔斯系统定量描述的理论方法发展十分重要，正如理解二维sp2层的物理所需。
引用
@article{arxiv.1912.06083,
title = {The true corrugation of a h-BN nanomesh layer},
author = {Luis Henrique de Lima and Thomas Greber and Matthias Muntwiler},
journal= {arXiv preprint arXiv:1912.06083},
year = {2020}
}