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Neumann 筛问题与平面降维:一种多尺度方法

偏微分方程分析 2013-10-31 v1

摘要

我们对厚度为 2δ2\deltann 维双层薄膜的弹性能进行多尺度分析,其两层通过 ϵ\epsilon-周期分布的接触区相连。将接触区描述为半径 rϵr\ll \epsilon(n1)(n-1) 维球之并(筛的孔),并假设 δϵ\delta \ll \epsilon,我们证明筛的渐近记忆(当 ϵ0\epsilon \to 0 时)由一个额外的界面能项的出现所体现。此外,根据 δ\deltarr 相互趋零的速率,我们找到三种不同的极限行为(或态)。我们还给出了每种态下界面能密度的显式非线性容度型公式。

关键词

引用

@article{arxiv.math/0605769,
  title  = {The Neumann sieve problem and dimensional reduction: a multiscale approach},
  author = {Nadia Ansini and Jean-Francois Babadjian and Caterina Ida Zeppieri},
  journal= {arXiv preprint arXiv:math/0605769},
  year   = {2013}
}

备注

43 pages, 4 figures