电极尺寸对忆阻器特性的影响：实验与理论研究
材料科学
2012-07-31 v1 新兴技术
化学物理
摘要
电极宽度未包含在当前的忆阻现象学模型中，但包含在忆阻的记忆守恒（mem-con）理论中。我们对二氧化钛溶胶 - 凝胶忆阻器进行了改变顶部电极宽度的实验研究。结果表明，开态电阻（Ron）和关态电阻（Roff）均随电极尺寸的增加而减小。mem-con 模型的记忆函数部分能够拟合 Ron 与电极尺寸之间的关系。同样，守恒函数也拟合了 Roff 的变化。实验测得的磁滞回线不符合现象学模型的预测；相反，磁滞回线的大小随电极尺寸的增加而增大，并与 Ron 的减小具有良好的相关性。
引用
@article{arxiv.1207.6933,
title = {The Effect of Electrode Size on Memristor Properties: An Experimental and Theoretical Study},
author = {Ella Gale and Ben de Lacy Costello and Andrew Adamatzky},
journal= {arXiv preprint arXiv:1207.6933},
year = {2012}
}
备注
6 pages, 9 figures, submitted for a conference