中文

单个缺陷的临界现象

统计力学 2015-09-16 v2

摘要

我们考虑带有点缺陷的临界系统,并研究热力学量的变化,即带缺陷与不带缺陷时这些量的差值。在重正化群理论框架内,我们一般地证明:内能变化的临界指数等于纯系统的比热指数,而热容变化的临界指数等于纯系统比热温度导数的临界指数。该结论对各向同性且具短程相互作用的系统成立。作为例子,我们数值求解了带点缺陷的二维伊辛模型。利用键传播算法计算了自由能、内能和比热的变化。在临界点处,内能变化随晶格尺寸对数发散,热容变化随尺寸线性发散。在临界点附近,内能变化表现为 lnt\ln |t|,热容变化表现为 t1|t|^{-1},其中 tt 为约化温度。

关键词

引用

@article{arxiv.1505.05271,
  title  = {The critical phenomena of a single defect},
  author = {Xintian Wu and Yangyang Zhang},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1505.05271},
  year   = {2015}
}