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介电腔中的生存概率时间分布

混沌动力学 2009-11-11 v1

摘要

我们研究了介电腔中的生存概率时间分布(SPTD)。在圆形介电腔中,SPTD 具有代数长时行为,在 TM 和 TE 两种情况下均约为 t2t^{-2},但由于 TE 情况下存在布儒斯特角,其短时行为呈指数形式,表现出不同的特征。对于体育场形腔,SPTD 呈指数衰减,其指数与折射率 nn 满足 γn2\gamma \sim n^{-2} 的关系,比例系数可通过稳态概率分布的简单模型获得。我们还讨论了四极变形腔的 SPTD,并表明其长时行为可以是代数的或指数的,具体取决于岛的位置。

关键词

引用

@article{arxiv.nlin/0510004,
  title  = {Survival probability time distribution in dielectric cavities},
  author = {Jung-Wan Ryu and Soo-Young Lee and Chil-Min Kim and Young-Jai Park},
  journal= {arXiv preprint arXiv:nlin/0510004},
  year   = {2009}
}

备注

7 pages, 7 figures