锗烯在拉伸应变下的稳定性

本文通过密度泛函理论研究了锗烯在双轴拉伸应变下的稳定性及其伴随的电子性质变化。声子谱表明，在高达 $16\%$ 的应变下，锗烯晶格是稳定的，此时狄拉克锥向更高能量移动，并实现了空穴掺杂的狄拉克态。后者归因于 Ge-Ge 键的减弱和 s-p 杂化的降低。我们计算的 Gr"uneisen 参数显示出与应变的依赖关系类似于硅烯（这与石墨烯不同）。