电流密度阻抗成像的稳定性
偏微分方程分析
2020-08-04 v2
摘要
我们研究了电流密度阻抗成像（CDII）中重建的稳定性，即从物体内部电流密度矢量场大小的测量中恢复物体电导率的逆问题。我们的结果表明，CDII 相对于电流密度矢量场内部测量的误差是稳定的，并证实了先前数值模拟中观察到且长期被认为如此的重建稳定性。
引用
@article{arxiv.1905.12860,
title = {Stability of Current Density Impedance Imaging},
author = {Robert Lopez and Amir Moradifam},
journal= {arXiv preprint arXiv:1905.12860},
year = {2020}
}