利用杂质光谱学探测格林函数零点及其拓扑结构
强关联电子
2026-03-03 v2 介观与纳米尺度物理
材料科学
摘要
在无准粒子的情况下拓扑结构已成为理解 Mott 绝缘体的关键框架，其中格林函数的零点编码了非平凡的拓扑结构。然而，探测这些零点存在挑战。我们利用 Zeeman 场和杂质的单维 Hubbard 模型的精确对角化（配合精确解析结果），表明格林函数的零点在单位散射 regime 下表现为带内谱权。我们将杂质问题映射到掺杂 Mott 绝缘体，识别得到的带内态为'zeron'激发，表征为吸引（或受力）势的局域双子（或空穴）。当 Zeeman 场超过临界值时，zeron 的谱权及其关联的零将消失。我们的结果表明，格林函数的零点实际上已在实验中被观察到，并建立了杂质和磁场调控作为控制其拓扑结构的实用工具。
引用
@article{arxiv.2602.23477,
title = {Signatures of Green's function zeros and their topology using impurity spectroscopy},
author = {Sayan Mitra and Fang Xie and Marek Kolmer and Qimiao Si and Chandan Setty},
journal= {arXiv preprint arXiv:2602.23477},
year = {2026}
}
备注
8 pages, 5 figures + 19 pages Supplemental Material