半导体与Dirichlet-to-Neumann映射
偏微分方程分析
2021-01-25 v1 数值分析
数值分析
摘要
我们研究由稳态电压-电流（VC）映射所获得的数据来辨识半导体器件中不连续掺杂剖面的问题。相关的反问题对应于具有部分数据的Dirichlet-to-Neumann（DN）映射的反问题。
引用
@article{arxiv.2101.09248,
title = {Semiconductors and Dirichlet-to-Neumann maps},
author = {A. Leitao},
journal= {arXiv preprint arXiv:2101.09248},
year = {2021}
}
备注
13 pages, 2 figures