通过提升法从谱图测量中恢复紧支集函数

Sami Merhi; Aditya Viswanathan; Mark Iwen

通过提升法从谱图测量中恢复紧支集函数

数值分析 2017-06-07 v1

作者: Sami Merhi , Aditya Viswanathan , Mark Iwen

摘要

受叠层成像技术启发，本文提出了一种新的相位检索方法，用于从其连续短时傅里叶变换（STFT）谱图测量中近似恢复紧支集样本函数 $f:\mathbb{R}\rightarrow\mathbb{C}$ 。该方法部分受著名的 PhaseLift 算法启发，基于无限维问题的提升公式，随后为了计算目的对其进行截断。数值实验展示了所提方法的前景。

关键词

相位检索谱图测量短时傅里叶变换紧支集函数提升法 PhaseLift 叠层成像

引用

@article{arxiv.1706.01799,
  title  = {Recovery of Compactly Supported Functions from Spectrogram Measurements via Lifting},
  author = {Sami Merhi and Aditya Viswanathan and Mark Iwen},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1706.01799},
  year   = {2017}
}

备注

2017 International Conference on Sampling Theory and Applications (SampTA2017)

通过提升法从谱图测量中恢复紧支集函数

摘要

关键词

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备注

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